New Horizons in Testing. Latent Trait Test Theory and Computerized Adaptive Testing
David J. Weissหมวดหมู่:
ปี:
1983
ฉบับพิมพ์ครั้งที่:
1
สำนักพิมพ์:
Elsevier Inc, Academic Press
ภาษา:
english
จำนวนหน้า:
345
ISBN 10:
0127427805
ISBN 13:
9780127427805
ไฟล์:
PDF, 16.87 MB
IPFS:
,
english, 1983